“薄膜开关测试仪”为薄膜开关的生产提供了有效而简单的测试方法，通过一条排线与测试机架相连，可测试薄膜开关任何不同线路之间的短路，漏电，同一条线路的开路与阻值超标等不良，数码管直接显示不良点位置，由三个LED指示不良的原因，如果全部功能OK则显示PASS并有声音提示。测试步骤由MCU控制，通过事先学习好的程式自动测试，并有记忆功能，操作简单直观。不仅能测试薄膜开关的成品，而且还具有半成品测试功能，可在装配前将不良品快速的检测出来，采用小型化设计，整台仪器体积小巧，可放在生产线工作台上直接测试，可减少为测试所花费的搬运成本及由此带来的损耗。
（测试模式Ａ）
（测试模式Ｂ）
• 具有 16 组共 32 个测试点
• 可读出薄膜开关按键与出口的对应关系 ( 达 64 个 )
• 具有学习功能，接线方式灵活，有专用的接线板，分为模式A接线板和模式B接线板，接线更方便
• 分为 AB 两种测试模式，模式 A 可测试半成品薄膜开关线路，软性线路板，不多过 16 条的线材，简单的 PCB 和碳油板，模式 B 用于测试成品薄膜开关。
• 自动测试同一条线路的开路，阻值过大，数码管指示其位置
• 自动测试任何不同线路之间的短路，漏电超标 , 数码管指示其位置
• 阻值的上限由 1K 到 200K ，分为 12 档
• 漏电的上限由 300K 到 30M ，分为 12 档
• 具有记忆功能， AB 两种模式可记忆共 22 组测试数据，方便下次调出使用
A.多功能
不仅能测试多达16根引出线的薄膜开关（64个按键），还能测试半成品薄膜开关，软性线路板，线材，简单的PCB及碳油板。
B.智能化
能自动记录并显示薄膜开关的线路连接关系，能用数字显示任何开关出线关系，并能测试出是否有短路，漏电，开路，电阻值过大。
C.易使用
用4个数码管和3个LED指示测试结果，并有声音提示，不需要复杂的人工设定，并具有记忆功能，断电后再通电可直接测试，对测试人员文化要求不高。
D.小形化
是目前最小的薄膜开关测试仪，（长 /宽/高：19X13.5X6cm）,易放在任何要使用的地方，减小产品不必要的移动。
A：测试如下图1的半成品薄膜开关
如果用传统的测试方法，则最少要按 12 个按键才能测试完，如果将图 1 中加一些测试点，如图 2 ，用薄膜开关测试仪测试，只要将测试机架按下，在 0.5 秒内就可测试出来。
如果用传统的测试方法，则需要成品或PCBA机做机架，每测试一个按键，看一下显示或声音是否正确，有些还需要重复多次的按同一个按键，才能测试完所有的按键，并且有些还需要等待较长的时间才能测试下一个按键，如果使用本测试仪，则每个按键只按一次即可，按键间隔不足0.2秒，并用气动或电磁按键自动测试（须另定做）也可用如下图所示的测试棒来测试，用小轮依次各按键上滚动，并且不用去看，只听声音便知道按键是否OK 。大大的提高了生产效率，如果配置好各种插接口，则成为通用的测试架，可测试各种薄膜开关。
